《诊断水平剂量计校准规范》征求意见
由中国测试技术研究院联合北京计量检测科学研究院、青岛市计量技术研究院、江西省计量测试研究院制定的《诊断水平剂量计校准规范》已完成征求意见稿，现公开征求意见。意见反馈邮箱xushimeng@nimtt.com。
诊断水平剂量计(简称剂量计)由探测器和测量单元(或静电计)两大部分组成。探测器由电离室和(或)半导体探测器组成。电离室为平行板型电离室或圆柱型电离室。
现有的诊断水平剂量计校准规范发布实施于2017年，统一了诊断水平剂量计量值传递手段，使其量值能直接溯源至国家计量基准，与国际上校准方法保持一致。但该版本对辐射场要求不够完整，在实际校准工作中可能会导致校准结果出现偏差。本次修订对辐射场提出了进一步的要求，合并了部分公式，完善了不确定度评定的测量模型，能更好的检验医用诊断x射线检测设备计量性能的准确和可靠，保障人民群众的生命健康和安全。
本规范的编写以jjf 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、jjf 1001-2011《通用计量术语及定义》、jjf 1035-2006《电离辐射计量术语及定义》、jjf 1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》为基础和依据。校准方法及计量特性主要参考了iec 61674-2012 《医用电气设备-x射线诊断影像中使用的电离室和/或半导体探测器剂量计》(medical electrical equipment - dosimeters with ionization chambers and/or semiconductor detectors as used in x-ray diagnostic imaging)，iaea trs 457 放射诊断剂量学：实施指南(dosimetry in diagnostic radiology:an international code of practice)。
与jjf 1621-2017相比，除编辑性修改外，本规程主要变化如下：
——增加细化6.3.1中对辐射源的要求；
——增加6.3.2中对辐射质的要求；
——增加6.3.3中对滤片纯度、均匀性的要求；
——合并了7.3.1.5及7.3.2.5中的公式，使之更加简洁；
——修改附录d中不确定度分析测量模型中的公式。
依据jjf 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》，本规范在架构上包括：范围；引用文件；术语和计量单位；概述；计量特性；校准条件；校准项目和校准方法；校准结果表达；复校时间间隔以及附录等内容。
校准环境条件：
1.温度：(15～25)℃。2.相对湿度：30%～75%。3.气压：(80～106)kpa。4.校准时不应有影响使用的振动和电磁场干扰。
测量标准及其他测量设备：
1.测量标准为标准诊断水平剂量计或国家计量基准。
1.1.国家计量基准：(10~60) kv x射线空气比释动能基准和(60~250) kv x射线空气比释动能基准。
1.2.标准诊断水平剂量计：测量范围 (6×10-5～1) gy/min，年稳定性不超过±1%，其电离室在辐射质rqr 3～rqr 10(和/或rqa 3～rqa 10)范围的能量响应不超过±2.6%，校准因子的扩展不确定度不大于2.4%(k=2)。
2.温度计：测量范围(0～50)℃，最小分度值不大于0.1 ℃。
3.气压计：测量范围(80～106)kpa，最小分度值不大于0.1 kpa。
4.秒表：测量范围(0～3600)s，最小分度值不大于0.01 s。
5.准直器：准直器应大于ct探测器的尺寸，中间开长方形孔，孔长度(20～50)mm，孔长度方向最大允许误差±10 µm，宽度约为ct探测器直径的两倍。
6.定位系统：探测器的定位夹具应使用低原子序数材料做成，定位装置应便于探测器和面积准直器的调节，可采用光学、激光等方法定位探测器和准直器，定位偏差不超过±1 mm。
7.辐射场。
7.1.x射线辐射源的管电压范围(40～150)kv，管电压误差不超过±2.0%，管电压纹波小于10%，x射线管的靶阳极角不超过27°。
7.2.辐射质要求：辐射质应与附录a保持一致，对rqr系列辐射质其同质系数应与附录a.1中相差不超过±0.03。
7.3.滤片纯度不小于99.9%，滤片厚度误差应不超过±10μm。
7.4.辐射场为准直束辐射场，在测试平面，推荐射野10 cm×10 cm或φ10 cm。
校准结果表达：
校准结果出具校准证书。校准证书除应包括jjf 1071-2010中所要求的内容外，还应包含计量特性校准需注明的原则与环境条件。
复校时间间隔：
用户可根据仪器的使用情况和仪器本身质量自行确定复校时间的长短，建议复校时间间隔为12个月。
本规范适用于测量(40～150)kv x射线诊断水平剂量计或探测器、ct剂量计或探测器的校准。
相关资料下载： 《诊断水平剂量计校准规范》2022征求意见稿.rar
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——增加6.3.2中对辐射质的要求；
——增加6.3.3中对滤片纯度、均匀性的要求；
——合并了7.3.1.5及7.3.2.5中的公式，使之更加简洁；
——修改附录d中不确定度分析测量模型中的公式。
依据jjf 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》，本规范在架构上包括：范围；引用文件；术语和计量单位；概述；计量特性；校准条件；校准项目和校准方法；校准结果表达；复校时间间隔以及附录等内容。
校准环境条件：
1.温度：(15～25)℃。2.相对湿度：30%～75%。3.气压：(80～106)kpa。4.校准时不应有影响使用的振动和电磁场干扰。
测量标准及其他测量设备：
1.测量标准为标准诊断水平剂量计或国家计量基准。
1.1.国家计量基准：(10~60) kv x射线空气比释动能基准和(60~250) kv x射线空气比释动能基准。
1.2.标准诊断水平剂量计：测量范围 (6×10-5～1) gy/min，年稳定性不超过±1%，其电离室在辐射质rqr 3～rqr 10(和/或rqa 3～rqa 10)范围的能量响应不超过±2.6%，校准因子的扩展不确定度不大于2.4%(k=2)。
2.温度计：测量范围(0～50)℃，最小分度值不大于0.1 ℃。
3.气压计：测量范围(80～106)kpa，最小分度值不大于0.1 kpa。
4.秒表：测量范围(0～3600)s，最小分度值不大于0.01 s。
5.准直器：准直器应大于ct探测器的尺寸，中间开长方形孔，孔长度(20～50)mm，孔长度方向最大允许误差±10 µm，宽度约为ct探测器直径的两倍。
6.定位系统：探测器的定位夹具应使用低原子序数材料做成，定位装置应便于探测器和面积准直器的调节，可采用光学、激光等方法定位探测器和准直器，定位偏差不超过±1 mm。
7.辐射场。
7.1.x射线辐射源的管电压范围(40～150)kv，管电压误差不超过±2.0%，管电压纹波小于10%，x射线管的靶阳极角不超过27°。
7.2.辐射质要求：辐射质应与附录a保持一致，对rqr系列辐射质其同质系数应与附录a.1中相差不超过±0.03。
7.3.滤片纯度不小于99.9%，滤片厚度误差应不超过±10μm。
7.4.辐射场为准直束辐射场，在测试平面，推荐射野10 cm×10 cm或φ10 cm。
校准结果表达：
校准结果出具校准证书。校准证书除应包括jjf 1071-2010中所要求的内容外，还应包含计量特性校准需注明的原则与环境条件。
复校时间间隔：
用户可根据仪器的使用情况和仪器本身质量自行确定复校时间的长短，建议复校时间间隔为12个月。
本规范适用于测量(40～150)kv x射线诊断水平剂量计或探测器、ct剂量计或探测器的校准。
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