紧凑且易于操作的手动非接触式(涡流法)电阻测量仪产品名称:ec-80
产品图片(可根据客户要求进行各种定制)产品特点一种简单的测量仪器,只需在探针之间插入样品即可进行测量在电阻/薄层电阻测量模式之间轻松切换使用jog拨盘轻松设置测量条件*由于探头是固定的,因此您可以在购买前从几种类型的探头中选择一种。测量规格测量目标
半导体/太阳能电池材料相关(硅,多晶硅,sic等)
新材料/功能材料相关(碳纳米管,dlc,石墨烯,银纳米线等)
导电薄膜相关(金属,ito等)
硅基外延,离子与
半导体相关的注入样品化合物(gaas epi,gan epi,inp,ga等)
其他(*请与我们联系)
测量尺寸
〜8英寸,或〜156x156mm
测量范围
[电阻] 1m至200ω·cm
(*所有探头类型的总范围/厚度500um)
[抗页电阻] 10m至3kω/ sq
(*所有探头类型的总范围)
*有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
(1)低:0.01至0.5ω/□(0.001至0.05ω-cm)
(2)中:0.5至10ω/□(0.05至0.5ω-cm)
(3))高:10至1000ω/□(0.5至60ω-cm)
(4)s-高:1000至3000ω/□(60至200ω-cm)
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