densoku的原理及特点分析
电解膜厚仪测量原理膜厚是通过阳极-阴极电解法熔化镀膜来测量的,这是一种应用“定律”测量镀层厚度的方法。(阳极电解电路见图1。)在镀膜结束时,测量部分以恒定电流熔化,因此膜金属消失,当底层金属出现时,阳极电压发生变化,这个电压检测到变化,测量结束。 待办事项。(见图2)
电解式膜厚仪特点虽然是破坏性测量方法,但测量简便,可以测量多层电镀。
可测量双镍、三镍各层膜厚及电位差
可分别测量纯锡层和镀锡铜时形成的合金层的厚度。
能够测量x射线无法测量的镀层厚度(最大300μm)。
通过使用电线测试仪,可以测量细电线上的电镀膜厚度。
使用示例测量镀锡线(镀锡铜线)上纯锡层的厚度
汽车外饰件中cr/ni/cu三层镀层的测量,以及ni镀层中双镍、三镍电位差的测量。
无损膜厚计测量的交叉检查
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