微先锋镀层测厚仪的功能分析

micro pioneer xrf-2000r x光镀层测厚仪及rohs元素分析仪是在xrf-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,其物点为:高分辨率,固态探测器。主要应用测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围:ti(22)~u(92 )。 自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动xyz移动样品台;性价比*的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器微先锋镀层测厚仪的功能:
1.相容microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用office软体编辑报告。
2.标準roi软体搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。
3.可测量高达六层的镀层(五层厚度底材) 并可同时分析多种元素。
4.移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差。
5.全系列*设计样品与光径自动对準系统。
6.非破坏,非接触式检测分析,快速精準。
7.準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。

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